第5年
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梅特勒 XK1003KMD2C質量比較器
梅特勒 XPR204/AC電子天平
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RX4折光率模塊可與超越系列密度計結合使用，用于密度和折光率的同步測量。RX4可用于測量折光率，測量范圍為1.32到1.70，同時可實現自動溫度控制，控制范圍為0到100 °C。
無縫模塊化設計
通過One Click?一鍵式用戶界面，用戶只需一次單擊，即可開始完整的工作流程，包括進樣、測量、沖洗、干燥和SOP等。
用戶管理
用戶管理系統允許定義不同的訪問權限，每個用戶均可設定自己的主屏幕和語言。
自動溫控
集成的帕爾貼溫度控制裝置能夠快速的加熱或冷卻測量池，因此能夠準確地將樣品維持在所需的溫度。
規格 - 折光率模塊 RX4
| 測量范圍nD | 1.3200 - 1.7000 |
| 準確度nD | 0.0001 |
| 重復性nD (±) | 0.00005 |
| 測量范圍 Brix | 0-100 % w/w |
| 準確度 Brix (2) | 0.05 |
| 溫度范圍 | 5 °C – 100 °C |
| 溫度準確度 (2) | 0.1 °C |
| 測量單位 (3) | 折光率、糖度（白利糖度等）、酸堿度、化學品、凝固點、鹽度等; 最高可達30項用戶定義濃度表（允許以表格或公式的形式輸入）。 |
| 尺寸(深x高x寬) | 226 x 193 x 208 mm |
| 重量 | 4.8 kg |
| 標準合規性 | www.mt.com/dere-norms |
| 尺寸 | 226 mm |
| 尺寸 (高x寬) | 193 mm x 208 mm |
| 重復性 Brix (% w/w) | 0.05 % w/w |
| 溫度控制 | 適用 |
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